需求背景：理論上講，大量電子設(shè)備安置在一個(gè)極其緊湊的空間中，且差異巨大，就有可能對(duì)外界發(fā)出EMI。EMI測(cè)試部分包括CE測(cè)試和RE測(cè)試，前者是傳導(dǎo)干擾，后者是輻射干擾，都是評(píng)估對(duì)外界的干擾，只不過CE是電路上的干擾，RE是空間電磁場(chǎng)的干擾。為了使電子產(chǎn)品符合相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，在開發(fā)過程中進(jìn)行必要的EMI診斷測(cè)試不僅可以提升產(chǎn)品的性能質(zhì)量，同時(shí)可以節(jié)約成本。

一、主要運(yùn)用場(chǎng)景：

（1）電路板

（2）家用電器/電動(dòng)工具

（3）汽車電子/航空電子

（4）電源

（5）燈具

二、測(cè)試方案

      實(shí)時(shí)頻譜分析儀+EMI附件+軟件：傳導(dǎo)測(cè)試系統(tǒng)主要由 實(shí)時(shí)頻譜分析儀、人工電源網(wǎng)絡(luò)（LISN）、隔離變壓器和EMI測(cè)試軟件、木桌、屏蔽房組成；輻射測(cè)試系統(tǒng)主要由 實(shí)時(shí)頻譜分析儀、近場(chǎng)探頭組成，方便定位干擾源。

三、實(shí)測(cè)對(duì)比

      客戶咨詢的是掃頻頻譜分析儀和EMI測(cè)試接收機(jī)，這個(gè)也是目前行業(yè)內(nèi)用較多的測(cè)試設(shè)備。我們的實(shí)時(shí)頻譜分析儀，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)和EMI測(cè)試接收機(jī)基本一致，同時(shí)測(cè)試速度比傳統(tǒng)的頻譜儀更快，且實(shí)時(shí)頻譜儀可以到3GHz/7.5GHz，覆蓋傳導(dǎo)到輻射干擾頻率范圍。

四、技術(shù)參數(shù)