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一、概述

      在追求效率的自動(dòng)生產(chǎn)線(xiàn)上，速度就是效益的保證，萬(wàn)用表作為自動(dòng)化測(cè)試的核心設(shè)備，其測(cè)試速度直接關(guān)系到整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的效率。 SDM4000A系列高速六位半萬(wàn)用表，其擁有高達(dá)50k rdgs/s的讀數(shù)速率，2,200,000的計(jì)數(shù)值，可達(dá)100 PLC、低至0.001 PLC的采樣間隔，涵蓋了11種測(cè)量項(xiàng)，并搭載觸摸屏及全新UI。在追求準(zhǔn)確高效的自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境中， SDM4000A不僅能顯著提升單個(gè)產(chǎn)品的測(cè)試效率，更能助力整個(gè)產(chǎn)線(xiàn)實(shí)現(xiàn)更高的效益。

二、主要特性

（1）6? 位讀數(shù)分辨率（2,200,000 count）

（2）讀數(shù)速率50k rdgs/s，采樣間隔可低至20μs

（3）真有效值交流電壓和交流電流測(cè)量

（4）記錄儀功能和數(shù)字化儀功能

（5）5英寸觸摸屏，分辨率800*480

三、產(chǎn)品特點(diǎn)

（1）真正的六位半萬(wàn)用表

      SDM4000A系列數(shù)字萬(wàn)用表?yè)碛?? 位讀數(shù)分辨率（2,200,000 count），滿(mǎn)量程可顯示 ±0000000 ~ 2,199,999。不俗性能使小電流的變化到大電壓的波動(dòng)，盡在掌控之中。

（2）高速&高精度測(cè)量

      SDM4000A可實(shí)現(xiàn)50000讀數(shù)/秒，采樣間隔低至20 μs，單次可采集2M點(diǎn)，同時(shí)支持讀數(shù)時(shí)間戳功能。在采樣間隔方面，支持高達(dá)100 PLC和低至0.001 PLC的精細(xì)設(shè)置，使其在高速數(shù)據(jù)采集和微小變化監(jiān)測(cè)方面具有良好的性能，適用于各種需要精確測(cè)量的應(yīng)用場(chǎng)景。

（3）三種采樣方式

① 持續(xù)采樣模式

      萬(wàn)用表以恒定的速率連續(xù)不斷地進(jìn)行采樣和測(cè)量，用戶(hù)可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)變化

② 記錄儀

      可記錄100小時(shí)的數(shù)據(jù)，適用于需要長(zhǎng)時(shí)間記錄讀數(shù)的應(yīng)用場(chǎng)景

③ 數(shù)字化儀

      在低頻高精度采樣領(lǐng)域，數(shù)字化儀的性能表現(xiàn)要優(yōu)于示波器和頻譜儀。極其適用于高精度數(shù)字采樣、音頻信號(hào)數(shù)字化等應(yīng)用場(chǎng)景

（4）強(qiáng)大的數(shù)學(xué)運(yùn)算

      SDM4000A支持五種運(yùn)算：統(tǒng)計(jì)、限值、dBm、dB和相對(duì)運(yùn)算。不僅能快速統(tǒng)計(jì)各種測(cè)量數(shù)據(jù)，如峰值、小值、平均值、峰峰值、標(biāo)準(zhǔn)差和樣本數(shù)，還能根據(jù)預(yù)設(shè)的上下限值進(jìn)行通過(guò)/失敗測(cè)試。此外，其支持將電壓?jiǎn)挝晦D(zhuǎn)換為功率單位；還能以dB為單位展示測(cè)量值與參考值的相對(duì)關(guān)系；通過(guò)相對(duì)運(yùn)算，還可精確地找出實(shí)際測(cè)量值與預(yù)期值間的差異。

（5）遠(yuǎn)程控制及編程

      SDM4000A內(nèi)置USB Host，USB Device，LAN標(biāo)準(zhǔn)通信接口，選配USB-GPIB模塊。支持標(biāo)準(zhǔn)SCPI遠(yuǎn)程控制命令、上位機(jī)軟件、兼容新主流萬(wàn)用表命令集。內(nèi)嵌的Web Server可直接通過(guò)網(wǎng)頁(yè)遠(yuǎn)程控制萬(wàn)用表，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程編程和通信需求。

（6）多功能掃描卡

      SDM4065A-SC搭載的多功能掃描卡（SC1016）可以擴(kuò)展萬(wàn)用表功能，快速準(zhǔn)確地測(cè)量各種電路參數(shù)。SC1016具有16個(gè)通道測(cè)量接口(12個(gè)多功能通道+ 4個(gè)電流通道)，可以在多個(gè)測(cè)試點(diǎn)或器件上同時(shí)測(cè)量多個(gè)電路參數(shù)，并可通過(guò)上位機(jī)實(shí)現(xiàn)對(duì)設(shè)備和掃描卡控制。

四、技術(shù)參數(shù)