DP6000A系列是具有浮地測量功能的低壓差分探頭。在各種應(yīng)用中得到廣泛使用，可以為當(dāng)今的高速功率測量、車載總線測量和數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計提供準(zhǔn)確的通用差分信號測量。
一、概述
①?DP6000A 系列探頭是具有浮地測量功能的低壓差分探頭;
②?測量電壓±60V(DC+Pk)，其帶寬高達(dá)800MHz;
③?提供 50:1 的衰減設(shè)置，具有 400kΩ 的輸入阻抗，以及 0.5 pF 的低輸入電容，可以極大程度地降低電路負(fù)載;
④?具有過壓報警功能，可以兼容任何具有 50 Ω BNC 輸入的示波器;
⑤?可以通過示波器或計算機(jī)上的 USB 端口供電。
⑥?在各種應(yīng)用中得到廣泛使用，可以為當(dāng)今的高速功率測量、車載總線測量和數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計提供出色的通用差分信號測量。
二、簡要說明
| 型號 | 輸入差動電壓 | 帶寬 | 衰減比 |
| DP6020 | 20V | 200MHz | 10X |
| DP6020A | 20V | 800MHz | 10X |
| DP6040A | 40V | 800MHz | 20X |
| DP6060A | 60V | 800MHz | 50X |
三、產(chǎn)品細(xì)節(jié)說明
■ 探頭主體說明
■ 詳細(xì)說明：
① 輸入端口：間距是 2.54mm 的插孔，連接插針或延長線后測量電壓信號。
② 偏置調(diào)節(jié)：調(diào)節(jié)該可調(diào)電阻，實(shí)現(xiàn)輸出偏置調(diào)節(jié)。
③ 連接線：探頭前端和后端連接線，長度 70cm
④ 電源接口：標(biāo)準(zhǔn)的 USB TYPE-C 接口，通過標(biāo)配的 USB 適配器供電；也可以通過示波器供電，使用方便。
⑤ 過載報警指示燈(Overload):測量范圍超過量程時，過載指示燈亮,且有報警聲。
⑥ 輸出接口：標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)的 BNC 輸出接口，可接任何廠家示波器，要求示波器輸入阻抗設(shè)置為50Ω， 或者接標(biāo)配的貫通式 50Ω負(fù)載，示波器輸入阻抗設(shè)置成 1MΩ。
四、電氣規(guī)格
| 型號 | DP6060A | DP6040A | DP6020A | |
| 帶寬(-3dB) | 800MHz | |||
| 上升時間 | ≤437ps | |||
| 精度(讀數(shù)的%) | ±2% | |||
| 衰減比 | 50:1 | 20:1 | 10:1 | |
差分測量電壓 (DC + Peak AC) | ±60V | ±40V | ±20V | |
| 共模輸入電壓 | ±100V | ±60V | ±30V | |
| 額定輸入電壓 （每一端對地） | ±100V | ±60V | ±40V | |
| 輸入阻抗 | 單端對地 | 200kΩ | 200kΩ | 100kΩ |
| 兩輸入端 | 400kΩ | 400kΩ | 200kΩ | |
| 輸入電容 | 單端對地 | ＜1pF | ＜1pF | ＜2pF |
| 兩輸入端 | ＜0.5pF | ＜0.5pF | ＜1pF | |
| 輸出電壓擺動 | ±2V(驅(qū)動 50Ω 示波器輸入) | |||
| 偏置（典型值） | ±5mV | |||
| 偏置調(diào)整范圍（典型值） | ±20mV | |||
| CMRR | 50Hz/60Hz | ＞80dB | ||
| 500MHz | ＞15dB | |||
| 噪聲(Vrms) | 22mV | 9.0mV | 4.5mV | |
| 過載指示電壓閥值 | ≥60V | ≥40V | ≥20V | |
| 延時時間 | 探頭主機(jī) | 6ns | ||
| BNC 線(1m) | 5ns | |||
| 過載指示燈 | 過載時，指示燈紅燈亮 | |||
| 終端負(fù)載要求 | 50Ω | |||
| 電源 | USB 5V/2A 適配器 | |||
五、其它產(chǎn)品
ASD-B2403-ATE 系列是一款小功率、多通道、超高精度可編程單芯電池電壓模擬器，電壓精度高達(dá)六萬分之一，單機(jī)多達(dá) 24 個通道，且各通道間相互隔離，方便多通道串聯(lián)使用。支持 USB、RS232 通訊控制，控制軟件具有多通道批量操作功能，支持分別設(shè)定 各通道電壓、電流，支持分別顯示數(shù)據(jù)與報表功能。軟件靈活易用、操作簡潔，能滿足多通 道、多參數(shù)、復(fù)雜測試環(huán)境下測試的需求?？赡M電池組的充放電功能，從而代替電池對電池保護(hù)板或芯片進(jìn)行功能測試。
