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功率器件雙脈沖測試平臺搭建方案
  • 發(fā)布日期:2024-09-12      瀏覽次數(shù):162
    •     雙脈沖測試是表征功率半導(dǎo)體器件動態(tài)特性的重要手段,適用于各類功率器件,包括MOSFET、IGBT、Diode、SiC MOSFET、GaN HEMTs。同時,這項(xiàng)測試發(fā)生在器件研發(fā)、器件生產(chǎn)、系統(tǒng)應(yīng)用等各個環(huán)節(jié),測試結(jié)果有力地保證了器件的特性和質(zhì)量、功率變換器的指標(biāo)和安全,可以說是伴隨了功率器件生命的關(guān)鍵時刻。

          隨著先進(jìn)功率器件的問世以及功率變換器設(shè)計愈發(fā)精細(xì),器件研發(fā)工程師和電源工程師都越來越關(guān)注雙脈沖測試。

          工欲善其事,必先利其器,擁有一套雙脈沖測試平臺是獲得正確評估結(jié)果的一步。本文將破解雙脈沖平臺搭建的難題,快來看看吧。


      雙脈沖測試平臺架構(gòu)


           下圖是雙脈沖測試平臺的架構(gòu),并不復(fù)雜,主要包括:測試板、高壓電源、輔助電源、信號發(fā)生器、負(fù)載電感、示波器、電壓探頭、電流探頭


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      1、測試板

           測試板是完成雙脈沖測試的核心,一般為半橋電路,有時也會采用根據(jù)實(shí)際系統(tǒng)應(yīng)用的拓?fù)?。其上主要部件包括母線電容、驅(qū)動電路,母線電容為測試過程提供穩(wěn)定的母線電壓和所需的電流,驅(qū)動電路控制器件完成開關(guān)動作實(shí)現(xiàn)雙脈沖過程。

          測試板的優(yōu)劣直接影響到評估結(jié)果的正確性。測試板需要首先需要確保在測量無誤的情況下不出現(xiàn)異常波形,比如電壓尖峰超過器件耐壓值、無法解釋的震蕩、橋臂短路等,否側(cè)這樣的測試結(jié)果是沒有價值的。對于服務(wù)于系統(tǒng)應(yīng)用器件選型的測試需求,測試板可以直接選用變換器實(shí)際的電路板,這樣的測試結(jié)果可以直接用于電路設(shè)計。隨著器件的開關(guān)速度越來越快,對測試板的性能也提出了更高的要求,如回路電感、驅(qū)動電路等。


      2、高壓電源

          高壓電源在測試開始之前為測試板上的母線電容充電,起到設(shè)定測試電壓的作用。母線電容容值一般較大,從幾十uF到幾mF不等,這就要求高壓電源對容性負(fù)載的穩(wěn)壓能力要強(qiáng)。雙脈沖測試中,測試電壓一般不超過器件的耐壓值,故可以根據(jù)被測器件的電壓等級來確定高壓電源的電壓輸出能力。同時,同一雙脈沖測試平臺往往會用于測試不同電壓等級的器件,這就要求高壓電源的輸出電壓精度需要滿足測試要求。

          此外在雙脈沖測試中,測試電流是由被充滿電的母線電容提供的,高壓電源在測試過程中并不提供能量。故高壓電源可以選擇功率較小的型號,一方面可以節(jié)約成本,一方面可以降低噪聲。

          高壓電源可以選擇泰克吉時利的2260B-800-2直流電源。


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      3、輔助電源

           輔助電源的作用是為測試板上的驅(qū)動電路供電,所需電壓一般在20V以內(nèi),所需功率一般在20W以內(nèi)。同時,對于上下管都是開關(guān)管的測試板,可以選擇雙通道輸出的輔助電源為上下管的驅(qū)動電壓分別供電;對于三電平電路的雙脈沖測試,可以選擇三通道輸出的輔助電源為每個器件的驅(qū)動電壓分別供電。這樣的好處是可以提高測試電路的可靠性,不會因?yàn)槟骋或?qū)動電路故障而影響其他驅(qū)動電路。

          輔助電源可以選擇泰克吉時利的 2220 / 2230 / 2231系列直流電源。


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      4、信號發(fā)生器

           信號發(fā)生器的功能是向測試板上的驅(qū)動電路發(fā)出雙脈沖信號,完成雙脈沖測試。由于測試所需的雙脈沖信號頻率不高,且其上升下降速度對測試的影響很小,故選擇各廠商能提供的基礎(chǔ)的型號發(fā)生器即可。

           不過需要注意的是,對雙脈沖測試平臺進(jìn)行改造后還可以進(jìn)行多脈沖測試、短路測試、雪崩測試、電源開環(huán)測試,此時往往所需的控制信號就不止一路了。所以在搭建雙脈沖測試平臺時可以選擇雙通道輸出的信號發(fā)生器,以提高靈活度。

           同時在進(jìn)行雙脈沖測試時,需要不斷根據(jù)測試條件調(diào)整雙脈沖信號的脈寬和間隔,老式的信號發(fā)生器需要手動輸入編輯波形或上位機(jī)編程來實(shí)現(xiàn),十分不方便。針對這個問題,可以選擇泰克科技的AFG31021(單通道)或AFG31022(雙通道)信號發(fā)生器,其上搭載的雙脈沖測試app可以快捷地實(shí)現(xiàn)雙脈沖信號設(shè)置。


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      AFG31000系列任意波函數(shù)發(fā)生器


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      雙脈沖測試app界面


      5、示波器

           示波器用于被測器件開關(guān)過程波形的采集,至少包含驅(qū)動波形、端電壓波形和端電流波形,故可以選擇4通道示波器。此外又是需要同時對上下管器件進(jìn)行測試,這時就可以選擇8通道示波器,可以輕松搞定多路信號的采集。

           在示波器選擇時,還需要考慮其帶寬、分辨率、噪聲、采樣率等。傳統(tǒng)的器件開關(guān)速度慢,對示波器的要求不高。但隨著越來越多先進(jìn)功率器件的出現(xiàn),其電壓電流范圍更廣、開關(guān)速度更快,對用于雙脈沖測試的示波器提出了更高的要求。

           示波器可以選擇泰克的MSO5B和MSO6B系列示波器的1GHz版本,能夠滿足高開關(guān)速度對帶寬的要求,其具有12bit ADC可顯著提高測量精度、降低測量噪聲,特別對高壓大電流器件效果為顯著。此外,MSO5B和MSO6B系列示波器提供4通道、6通道、8通道3種配置選擇。


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      泰克MSO5B系列高分辨率多通道示波器


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      泰克MSO6B系列高分辨率低噪聲示波器


      6、電壓探頭

           電壓探頭用于測量被測器件的驅(qū)動電壓波形和端電壓波形。

           10倍無源探頭:帶寬高可達(dá)1GHz、衰減倍數(shù)小,使用無源探頭能夠獲得精準(zhǔn)的驅(qū)動電壓波形。由于其屬于無源探頭,故僅能用于測量下管器件的驅(qū)動電壓。同時還可用于200V以下器件端電壓測量,能夠獲的精準(zhǔn)的端電壓測量結(jié)果。在使用時同樣需要注意接地線的影響和阻抗匹配問題,且只能用于下管測量。


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       泰克10X無源探頭


          在使用10倍無源探頭測量驅(qū)動電壓時,需要注意接地線的影響和阻抗匹配,具體可以參考下面往期推薦。


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          測的離譜!SiC MOSFET驅(qū)動電壓測試結(jié)果離譜的六大原因!


           高壓單端探頭:高測量范圍高達(dá)2500V,高帶寬可達(dá)800MHz,能夠獲的精準(zhǔn)的端電壓測量結(jié)果。在使用時同樣需要注意接地線的影響和阻抗匹配問題,且只能用于下管測量。


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      泰克高壓單端探頭


           高壓差分探頭:其為差分輸入,故可以用于上管測試,但由于其CMRR不夠高,其測量結(jié)果正確性和精度不足以用于精準(zhǔn)的器件特性分析;屬于有源探頭,輸入阻抗相比10倍無源探頭更大,當(dāng)被測器件發(fā)生損壞時,對示波器來講更加安全;由于其衰減倍數(shù)較大,一般在50倍以上,導(dǎo)致其測量的驅(qū)動電壓波形上噪聲較大、精度較低;由于其端部接線長度較長,容易受到干擾,導(dǎo)致測量結(jié)果錯誤。


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      泰克高壓差分探頭


            其高測量范圍高達(dá)6500V,差分輸入,可用于上管器件測量。與測量驅(qū)動電壓時原因相同,測試精度較無源探頭差,帶寬不夠高。高帶寬達(dá)200MHz,無法滿足高速器件,如SiC、GaN器件動態(tài)特性精準(zhǔn)測試的要求。

           光隔離探頭:帶寬高可達(dá)1GHz,小衰減比僅1倍,1GHz下CMRR高達(dá)-90dB,使用光隔離探頭能夠獲得準(zhǔn)確的驅(qū)動電壓波形,是現(xiàn)階段測量上管驅(qū)動電壓波形的佳工具。


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      泰克光隔離探頭TIVP


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      破解SiC、GaN柵極動態(tài)測試難題的魔法棒


      7、電流探頭

           羅氏線圈:測量范圍從幾十安到幾千安無飽和問題,只能測量交流電流,無法測量直流電流,正好可以用于測量器件開關(guān)/反向恢復(fù)特性。羅氏線圈正好套入器件中測量電流,如分立器件的引腳、功率模塊的端子、功率模塊的鍵合線,這樣的方式不會破壞主功率線路而對器件特性造成影響。但其高帶寬僅為30MHz,無法精準(zhǔn)測量高速器件的電流。


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      泰克羅氏線圈


          同軸電阻:大帶寬可達(dá)1GHz以上,特殊安裝方式引入功率回路的寄生電感較小,測量精度高,能夠獲得精準(zhǔn)的器件斷電流,特別對SiC、GaN器件更是好的選擇。


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          泰克與系統(tǒng)商一同實(shí)現(xiàn)搭建雙脈沖平臺系統(tǒng)——DPT1000A 功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),專門用于針對三代半導(dǎo)體功率器件的動態(tài)特性分析測試,解決客戶在功率器件動態(tài)特性表征中常見的疑難問題。

          該系統(tǒng)亮相在泰克第三代半導(dǎo)體測試開放實(shí)驗(yàn)室。該實(shí)驗(yàn)室是泰克 一個半導(dǎo)體器件測試實(shí)驗(yàn)室,已經(jīng)開放免費(fèi)測試名額,將由測試專家提供現(xiàn)場技術(shù)指導(dǎo),為您解決SiC和GaN器件在模塊的靜態(tài)及動態(tài)參數(shù)、在應(yīng)用級別的準(zhǔn)確測試與評價難題。

          如果你想評估第三代半導(dǎo)體器件性能,如果你想驗(yàn)證所選功率器件是不是符合您的產(chǎn)品設(shè)計要求,那就來預(yù)約泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開放實(shí)驗(yàn)室吧!專家指導(dǎo),精準(zhǔn)評估,讓您使用無憂!


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