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國產(chǎn)近場探頭EM5030E

簡要描述：

國產(chǎn)近場探頭EM5030E系列探頭組包含了2個專門用來測試電場（E）的探頭，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz，主要應(yīng)用于查找電場干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。

發(fā)布日期：2023-12-31

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一、國產(chǎn)近場探頭EM5030E概述

       EM5030E系列探頭組包含了2個專門用來測試電場(E)的探頭，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz，主要應(yīng)用于查找電場干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設(shè)計(jì)。探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過標(biāo)準(zhǔn)時，可用近場探頭來尋找產(chǎn)品中哪個元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾，能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統(tǒng)內(nèi)信號切換速率、RF電壓等。當(dāng)干擾信號比較弱時，可以配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。

二、國產(chǎn)近場探頭EM5030E參數(shù)

 

三、應(yīng)用

1.EMI輻射干擾源定位

2.磁場強(qiáng)度檢測

 

四、授權(quán)證書

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