一、四端口矢網SNA6000A系列概述

      SNA6000A系列矢量網絡分析儀，頻率高達26.5GHz，配備四個測試端口，并且可通過SSM5000A系列開關矩陣或SSU5000A系列機械開關將端口擴展至24個或更多。為滿足多端口校準需求，減少連接器損耗，可選配SEM5000A系列電子校準件，大大縮減校準時間。SNA6000A矢網動態(tài)范圍高達135dB,采用了全新設計架構，具有更強大的數(shù)據(jù)運算處理能力，支持TDR、混頻器測量等多種功能，可廣泛的應用于通信、天線基站、材料、器件、智能制造、汽車電子等諸多領域。

二、四端口矢網SNA6000A系列主要特性

（1）頻率范圍：100 kHz~26.5 GHz

（2）動態(tài)范圍：135 dB

（3）中頻帶寬范圍：10 Hz~3 MHz

（4）輸出功率設置范圍：-55 dBm ~ +10 dBm

（5）支持4端口S參數(shù)測量、差分（平衡）測量、時域分析、標量混頻器測量等等

（6）可選配電子校準件、開關矩陣、機械開關

三、產品特征

（1）全新架構，更高精度

     SNA6000A矢量網絡分析儀采用了全新的內部架構，具備更加強大的數(shù)據(jù)處理能力，響應速度更快，能輕松實現(xiàn)4端口S參數(shù)測量，差分（平衡）測量，時域測量、帶寬、Q值等一鍵測量。并且其動態(tài)范圍高達135dB，有著較低的相位噪聲，可以幫助工程師在苛刻的測試場景下仍獲得準確可靠的測試結果。

（2）電子校準件-讓校準一步到位

      SEM5000A系列電子校準件，頻率范圍9kHz~26.5GHz，適用于鼎陽所有矢量網絡分析儀，能幫助工程師解決使用傳統(tǒng)機械校準件耗時久、誤差大、操作繁瑣等問題。電子校準件大幅縮減了校準步驟，減少了連接器的損耗，保證了校準精度，大大的節(jié)省了校準所需時間，為多端口測試和產線測試提供了更多的便利。

（3）開關矩陣-輕松實現(xiàn)多端口器件測試需求

     開關矩陣能讓多端口器件測試的連線變得簡單，并且也是自動測試系統(tǒng)的重要組成部分，起著控制信號流向的作用。SSM5000A系列射頻開關矩陣，頻率范圍9kHz~26.5GHz，適配鼎陽科技所有矢網產品，單臺可將輸出端口擴展至24個，還可繼續(xù)疊加。與傳統(tǒng)測量方式相比，使用射頻開關矩陣測量速度大大提升，可以幫助工程師輕松實現(xiàn)矢量網絡分析儀和多端口被測物的連接與測試，也適配了生產線使用場景。

（4）機械開關-頻率高達50GHz

     為滿足微波、毫米波系統(tǒng)多通道多端口測試需求，推薦使用頻率高達50GHz的SSU5000A系列機械開關。含有1-4個相互獨立、帶有SMA或2.4mm連接器的單刀雙擲機械開關，支持TTL電平控制，可廣泛應用在多通道多端口測試環(huán)境上。

（5）混頻器測量

     混頻器是微波毫米波系統(tǒng)的重要部件，其特性的好壞直接影響設備或儀器的性能。在混頻器研發(fā)生產的各個階段，都需要對其性能指標進行測量。

     傳統(tǒng)的矢量網絡分析儀只有雙端口，內置1個信號源，需要利用外部信號源提供本振信號才能測量混頻器，不僅操作繁瑣，測量速度慢且誤差很大。而SNA6000A系列矢量網絡分析儀擁有4個端口，內置兩個獨立信號源，無需外部信號源和控制器即可直接測量混頻器的變頻損耗。

（6）脈沖測量功能

     SNA6000A內置脈沖調制器和脈沖發(fā)生器應用于測試諸如功率晶體管之類的大功率被測器件，以及需要工作在脈沖模式下的模塊。連續(xù)波激勵所積累的熱量可能會損壞被測器件，而使用脈沖激勵進行測量可以安全地對這類器件的特性進行表征，同時也支持控制外部脈沖生成器和調制器，與外部主脈沖保持同步。

（7）增強時域分析功能TDR

     SNA6000A 支持高級時域分析功能（TDR），可精確測量傳輸線的特征阻抗，并幫助定位斷點或短路點的具體位置。此外，SNA6000A的 TDR 功能還可通過內部仿真生成眼圖，無需額外的碼型發(fā)生器，即可高效完成波形一致性測試。利用眼圖功能可以更直觀地分析信號傳輸中的噪聲、抖動、碼間串擾等問題。TDR 功能可廣泛應用于 PCB 板阻抗測試，材料性能測試，傳輸線質量測試中。

四、規(guī)格參數(shù)

五、其他產品

      CPH9000系列羅氏線圈高頻電流探頭是僅測試AC電流信號的高頻電流探頭，具有高帶寬，高精度（典型值2%）等特點。帶寬高達100MHz，標準的BNC輸出接口，很方便實現(xiàn)與示波器，數(shù)據(jù)采集器等連接，觀測電流波形；USB供電接口設計，使用更加靈活方便；連接線長度可以根據(jù)客戶要求定制，滿足特殊場合測試要求。